Elektrochemische Migration / Korrosion
Elektrochemische Migration (ECM) beeinflusst die Lebensdauer und zuverlässige Funktion elektronischer Baugruppen und wird häufig als Ursache für Feldausfälle vermutet.
Die Fachbeiträge geben Antworten auf Fragen zur Entstehung und Verhalten des Mechanismus, der Auswahl der richtigen Schutzmaßnahmen sowie weitere wissenswerte Informationen über Elektrochemische Migration.
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Einfluss des pH Wertes auf den Mechanismus der Elektrochemischen Migration
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Elektrochemische Migration als Ursache für Feldausfälle – TEIL I
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Elektrochemische Migration als Ursache für Feldausfälle – TEIL II
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Elektrochemische Migration: Auswahlkriterien für Schutzkonzepte – TEIL I
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Elektrochemische Migration: Auswahlkriterien für Schutzkonzepte – TEIL II
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Feuchte- und Material-induzierte Fehlermechanismen in der Leistungselektronik
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Schadensursachen erkennen und vermeiden
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Schutzbeschichtung – Feldausfälle und Schutzkonzepte
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