Schadensursachen erkennen und vermeiden

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[Dr. Markus Meier]

Ausfallursachen- und Schadensanalyse von elektronischen Baugruppen.

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Beschreibung

[05/2020]

Ausfallursachen- und Schadensanalyse von elektronischen Baugruppen

Fehlfunktionen und Feldausfälle in hochwertigen elektronischen Geräten sind häufig Auslöser kostspieliger Rückrufaktionen und juristischer Auseinandersetzungen hinsichtlich Haftungsfragen und Schadensersatzansprüchen.

Wie eine Ursachenanalyse in der Praxis umgesetzt werden kann, wird in diesem Artikel anhand einer Fallstudie veranschaulicht.

Autor(en)

Dr. Markus Meier

Senior Technology Analyst, ZESTON EUROPE

Nach seinem Chemie-Studium an der Technischen Universität München beschäftigte sich Markus Meier unter anderem mit der Alterung von Zement und promovierte dort zum Thema Kristallisation von Zement-Hydrat-Phasen unter Mikrogravitation. Er ist Experte auf den Gebieten Grenzflächenchemie und Oberflächenanalytik. Bei ZESTRON Europe ist er Teil des Reliability & Surfaces Team und ist dort für die Koordination von Forschungsprojekten sowie für die Organisation von Technologie Coachings verantwortlich. Er hat bereits zahlreiche Fachbeiträge veröffentlicht.

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