Beschreibung
[07/2023]
Der vorliegende Artikel fasst den zweiten Teil einer Studie zusammen, die sich mit der Extraktion von ionischer Kontamination unbestückter Leiterplatten sowie Baugruppen mit low- standoff Komponenten befasst. Nach der Untersuchung des Einflusses von Zeit, Temperatur und IPA/DI-Wasser-Gemisch auf die Ionenextraktion in der Ionenchromatographie [1] konzentriert sich der zweite Teil zum einen auf die Bewertung der Ionenreinheit unbestückter Leiterplatten und zum anderen auf einen Vergleich der Ionenchromatographieergebnisse zwischen intakten elektronischen Baugruppen und Baugruppen
nach Entfernung von low-standoff Komponenten.
Autor(en)
Dr. Helmut Schweigart
Leiter Reliability & Surfaces, ZESTRON EUROPE
Er promovierte im Bereich Zuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen und ist seit den Anfängen des Unternehmens bei ZESTRON Europe. Derzeit ist er für die Technologie Entwicklung zuständig. Zudem ist er Vorstandsmitglied der GfKORR (Gesellschaft für Korrosionsschutz) sowie aktives Mitglied bei der GUS (Gesellschaft für Umweltsimulation) und IPC. Er hat bereits zahlreiche Fachbeiträge veröffentlicht.
Freddy Gilbert
Technology Analyst, ZESTRON EUROPE
Er studierte Materialwissenschaften an der Polytechnischen Hochschule der Universität Montpellier und der Technischen Universität Berlin zum Master of Engineering. In seiner Position als Technology Analyst im ZESTRON Reliability & Surfaces Team organisiert und führt er Technologie Coachings zu den Themen Schadens- und Oberflächenanalyse sowie Risikobewertung durch.
