Beschreibung
[03/2020]
Die Charakterisierung des Klimawiderstands von elektronischen Baugruppen erfolgt zumeist über die Messung des spezifischen Oberflächenwiderstands (SIR – Surface Insulation Resistance). Die Auswertung dieser Testergebnisse ermöglicht zwar die Schlussfolgerung, dass eine mit den gewählten Materialien und Prozessen aufgebaute elektronische Schaltung eine ggf. nicht ausreichende Klimastabilität aufweist, jedoch lassen die Ergebnisse keinen Rückschluss auf die Ursache des Einbruchs des SIR-Werts unter das Akzeptanzkriterium zu.
Im Rahmen dieses Beitrags wird diskutiert, wie und inwieweit eine Messung der ionischen Kontamination mittels Ionenchromatographie die Interpretation der erhaltenen SIR-Werte ermöglicht.
Dr. Helmut Schweigart
Leiter Reliability & Surfaces, ZESTRON EUROPE
Er promovierte im Bereich Zuverlässigkeit von elektronischen Baugruppen und ist seit den Anfängen des Unternehmens bei ZESTRON Europe. Derzeit ist er für die Technologie Entwicklung zuständig. Zudem ist er Vorstandsmitglied der GfKORR (Gesellschaft für Korrosionsschutz) sowie aktives Mitglied bei der GUS (Gesellschaft für Umweltsimulation) und IPC. Er hat bereits zahlreiche Fachbeiträge veröffentlicht.
Dr. Markus Meier
Senior Technology Analyst, ZESTRON EUROPE
Nach seinem Chemie-Studium an der Technischen Universität München beschäftigte sich Markus Meier unter anderem mit der Alterung von Zement und promovierte dort zum Thema Kristallisation von Zement-Hydrat-Phasen unter Mikrogravitation. Er ist Experte auf den Gebieten Grenzflächenchemie und Oberflächenanalytik. Bei ZESTRON Europe arbeitet er in der Technologie Entwicklung und ist dort für die Koordination von Forschungsprojekten sowie für die Organisation von Technologie Coachings verantwortlich. 
